Volumen 1, Número 1, 2009
Espectroscopía de Absorción de Rayos-X, XAFS: Una Técnica
Para Análisis Local en Sólidos
A.I. Figueroa-García
Resumen
El estudio local en sólidos representa una herramienta de gran utilidad en el desarrollo de nuevos materiales puesto que permite analizar interna, estructural y detalladamente su comportamiento a nivel atómico y de sus vecindades. El presente artículo pretende dar una visión general de una de las técnicas usadas por los científicos en el estudio de materiales como lo es la absorción de rayos-X en estructura fina, XAFS, mostrando generalidades acerca de su funcionamiento, los equipos que emplea y ejemplos de aplicaciones en los que este tipo de técnicas puede resultar de gran utilidad.
Abstract
Local study in solids represents a very useful tool towards new materials development since it leads an internal, structural and detailed analysis about their behavior in an atomic and its neighborhood level. This paper pretends to give a general overview about one of the techniques used by scientists to study materials, which is the X–ray Absorption Fine Structure, XAFS, showing its general working characteristics, instrumentation and application examples in which this kind of techniques can be very useful.
DOI: https://doi.org/10.46571/JCI.2009.1.1
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